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絕緣材料測試儀器

高阻計(jì) 擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀高溫直流測試系統(tǒng)

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FDS 2000半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷測試系統(tǒng)/測試儀

更新時(shí)間：2024-09-05

型號：FDS 2000

瀏覽量：2171

半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷測試系統(tǒng)/測試儀，是基于電介質(zhì)介電響應(yīng)理論，集介電響應(yīng)測試與絕緣狀態(tài)評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。是我們?nèi)A測公司的優(yōu)質(zhì)儀器，售后好價(jià)格優(yōu)請您放心的選購。
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FDS 2000半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-09-05

型號：FDS 2000

瀏覽量：1536

半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統(tǒng)，是基于電介質(zhì)介電響應(yīng)理論，集介電響應(yīng)測試與絕緣狀態(tài)評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。該儀器的測試頻率范圍為1mHz-1kHz，且在低頻范圍內(nèi)可以選用快速測試方式，在保證測試精度的前提下，大幅減少實(shí)驗(yàn)室測量時(shí)的等待時(shí)間及現(xiàn)場測量的停電時(shí)間。
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HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器

更新時(shí)間：2024-07-15

型號：HCLD-III

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觸摸屏高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器產(chǎn)品簡介，HCDH-200漏電起痕試驗(yàn)儀適用于照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、機(jī)床電器、電機(jī)、電動工具、電子儀器、電工儀表、信息技術(shù)設(shè)備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢部門，也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)。，也適用于電氣能力驗(yàn)證計(jì)劃與技術(shù)研討會中的有關(guān)CHEARI-PT003耐電痕化指數(shù)測試。
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Huace-300高阻計(jì) /可測高電阻微電流

更新時(shí)間：2024-12-12

型號：Huace-300

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Huace-300 高阻計(jì) /可測高電阻微電流，既可測量高電阻，又可測微電流。測量精度達(dá)到3‰。
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華測儀器Huace-991防靜電電阻率測試設(shè)備

更新時(shí)間：2025-02-28

型號：

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華測儀器Huace-991防靜電電阻率測試設(shè)備在測量導(dǎo)電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時(shí)會因?yàn)殡姌O與被測量材料表面電阻而影響測量準(zhǔn)確性，本裝置采用四電極（四點(diǎn)探針或四探針）法測量導(dǎo)電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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HCLD-2固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)設(shè)備

更新時(shí)間：2025-02-28

型號：HCLD-2

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固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)設(shè)備(電痕化指數(shù)試驗(yàn)儀)儀主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。
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Huace-300高阻計(jì) 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法

更新時(shí)間：2025-02-07

型號：Huace-300

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Huace-300高阻計(jì) 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法既可測量高電阻，又可測微電流。測量精度達(dá)到3‰。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量程從0.01×104Ω ～1×1018Ω，是目前國內(nèi)測量范圍較寬，準(zhǔn)確度最高的數(shù)顯式絕緣材料電阻率測量儀器。
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HCDJ-37a評估材料絕緣性介電常數(shù)損耗測試儀

更新時(shí)間：2025-02-10

型號：

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HCDJ-37a評估材料絕緣性介電常數(shù)損耗測試儀是華測儀器推出的新一代高壓電橋,主要用于測量高壓工業(yè)絕緣介質(zhì)損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路,主要可以測量電容器，互感器，變壓器，各種電工絕緣油及各種絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容量（C）及介電常數(shù)(ε)。
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