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儲(chǔ)能科學(xué)與工程試驗(yàn)設(shè)備

變溫電壓擊穿試驗(yàn)儀隔膜氣密性測(cè)試系統(tǒng) 電弱點(diǎn)測(cè)驗(yàn)儀高壓漏電起痕試驗(yàn)儀閉孔破孔溫度測(cè)試儀變溫?fù)舸╇妷涸囼?yàn)儀耐電弧試驗(yàn)儀高溫絕緣電阻測(cè)試儀電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 低壓漏電起痕試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓試驗(yàn)儀

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計(jì)算機(jī)控制介電擊穿電壓強(qiáng)度測(cè)量裝置滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法　第1部分；工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。
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直流電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀HCDJC-100KV

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華測(cè)絕緣材料直流電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀HCDJC-100KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法　第1部分；工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。
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陶瓷玻璃電壓擊穿試驗(yàn)儀HCDJC-20KV

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華測(cè)陶瓷玻璃電壓擊穿試驗(yàn)儀HCDJC-20KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法　第1部分；工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。
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硅膠工頻電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀HCDJC-20KV

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HCDJ-100KV電壓擊穿強(qiáng)度測(cè)量裝置

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HCDJ-100KV電壓擊穿強(qiáng)度測(cè)量裝置 ●多級(jí)循環(huán)電壓采集技術(shù)：材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1/5～1/3,通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級(jí)電壓瞬間下降一定比率來(lái)判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級(jí)循環(huán)采集技術(shù)對(duì)擊穿后的電壓采集將解決此難題。
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HCDI-50KV計(jì)算機(jī)控制電壓擊穿強(qiáng)度測(cè)試儀

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HCDI-50KV計(jì)算機(jī)控制電壓擊穿強(qiáng)度測(cè)試儀●多級(jí)循環(huán)電壓采集技術(shù)：材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1/5～1/3,通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級(jí)電壓瞬間下降一定比率來(lái)判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級(jí)循環(huán)采集技術(shù)對(duì)擊穿后的電壓采集將解決此難題。
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HCRD-300全自動(dòng)控制電弱點(diǎn)測(cè)試儀器新能源電池

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全自動(dòng)控制、電弱點(diǎn)測(cè)試儀器HCRD-300：全自動(dòng)控制電弱點(diǎn)測(cè)試儀器新能源電池是根據(jù)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。本機(jī)采用計(jì)算機(jī)控制，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集、處理，并可存取、顯示、打印。
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計(jì)算機(jī)控制電弱點(diǎn)測(cè)試儀器HCRD-300

更新時(shí)間：2024-12-16

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計(jì)算機(jī)控制電弱點(diǎn)測(cè)試儀器HCRD-300：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
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