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  • AMR-UD導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) 可靠性電路測試系統(tǒng)
    AMR-UD導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) 可靠性電路測試系統(tǒng)

    更新時間:2024-07-23

    型號:AMR-UD

    瀏覽量:3064

    導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) 可靠性電路測試系統(tǒng)在低溫、高溫的溫度循環(huán)環(huán)境下,采用4端子測試法對焊點、連接器接點等導(dǎo)體進行多通道微小電阻連續(xù)測量,以評估電子裝配與材料的正確性和可靠性。操作軟件可實時自動測量記錄數(shù)據(jù),圖表化微小電阻變化及試驗箱溫度變化,可通過LAN進行數(shù)據(jù)處理
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  • 絕緣電阻劣化離子遷移評估系統(tǒng)/PCB測試
    絕緣電阻劣化離子遷移評估系統(tǒng)/PCB測試

    更新時間:2023-08-29

    型號:

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    面對電子產(chǎn)品越來越小型輕量及絕緣電阻劣化離子遷移評估系統(tǒng)/PCB測試配之以高溫高濕試驗箱聯(lián)動,可連續(xù)監(jiān)測,簡便評估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。
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  • 介電溫譜試驗儀可測薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具
    介電溫譜試驗儀可測薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具

    更新時間:2024-12-08

    型號:

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    介電溫譜試驗儀可測薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具,主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測試軟件于一體,可測試材料的介電常數(shù),介質(zhì)損耗,阻抗譜Co-Co圖,機電耦合系數(shù)等,同時可分析被測樣品隨溫度,頻率,時間變化的曲線,測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。
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  • HPZT-200靜壓電系數(shù)d33測量儀/測試儀器
    HPZT-200靜壓電系數(shù)d33測量儀/測試儀器

    更新時間:2023-08-07

    型號:HPZT-200

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    靜壓電系數(shù)d33測量儀/測試儀器為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用激振器,以實現(xiàn)振動頻率。電荷采用采用高阻放電荷放大器。以保證測試數(shù)據(jù)的精度。
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  • 水平垂直燃燒測試儀
    水平垂直燃燒測試儀

    更新時間:2023-08-29

    型號:

    瀏覽量:2136

    水平垂直燃燒測試儀本試驗設(shè)備符合 ANSI/UL94、IEC60950-1 標準的要求。用于對電器設(shè)備和器具的塑料材 料部件進行水平、垂直可燃性試驗。產(chǎn)品箱體外殼為鋼材結(jié)構(gòu),并配置了透明觀察窗,數(shù)顯計時器記錄施焰、余焰、余灼時間,裝置外形美觀,使用方便,可靠。
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  • 華測熱重分析儀/力學(xué)原位加載
    華測熱重分析儀/力學(xué)原位加載

    更新時間:2023-08-21

    型號:

    瀏覽量:3266

    華測熱重分析儀/力學(xué)原位加載(Thermal Gravimetric Analyzer)是一種利用熱重法檢測物質(zhì)溫度-質(zhì)量變化關(guān)系的儀器。熱重法是在程序控溫下,測量物質(zhì)的質(zhì)量隨溫度(或時間)的變化關(guān)系。當被測物質(zhì)在加熱過程中有升華、汽化、分解出氣體或失去結(jié)晶水時,被測的物質(zhì)質(zhì)量就會發(fā)生變化。這時熱重曲線就不是直線而是有所下降。
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  • 華測-高溫快速爐測試儀器
    華測-高溫快速爐測試儀器

    更新時間:2023-08-29

    型號:

    瀏覽量:2179

    華測-高溫快速爐測試儀器-高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐,原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱,加熱與降溫速度慢,效率低下,加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象
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  • 高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線
    高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線

    更新時間:2024-12-08

    型號:

    瀏覽量:4128

    高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線,公司開發(fā)的高低溫阻抗、介電測量系統(tǒng)軟件將高溫測試平臺,高溫測試夾具與WK6500系列、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測量設(shè)備無縫連接,實現(xiàn)了自動完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測量與分析。
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